Spende 15. September, 2024 – 1. Oktober, 2024 Über Spenden

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий:...

Main
Растровая электронная микроскопия для...

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение

ред.: У. Жу, ред.: Ж. Л. Уанг, пер.: С. А. Иванов, пер.: К. И. Домкин

0 / 0

Wie gefällt Ihnen dieses Buch?

Wie ist die Qualität der Datei?

Herunterladen Sie das Buch, um Ihre Qualität zu bewerten

Wie ist die Qualität der heruntergeladenen Dateien?

Seiten:

607

ISBN 10:

5996321238

ISBN 13:

9785996321230

Datei:

PDF, 18.71 MB

IPFS:

,

0

Online lesen

Die Konvertierung in ist im Gange

Die Konvertierung in ist fehlgeschlagen

Es kann für Sie interessant sein

Пронин Александр Александрович — Физические основы нанотехнологий

Казан. гос. технол. ун-т , Абдуллин И. Ш., Барабанов В. П. — Вестник Казанского технологического университета: Т. 14. № 11. 2011

Ситанов Д.В. — Методы исследования материалов и структур

Горленко Олег Александрович — Контроль, испытания и диагностика узлов трения

Козик Е. С. — Устройство и работа электронного микроскопа JEOL JCM-6000 NEOSCOPE

Уарова Р. М. — Основы цифровой печати

Братченко Н. Ю. — Инженерная и компьютерная графика

А. Р. Хайруллин — Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии

Кальнер В.Д., Зильберман А.Г. — Практика микрозондовых методов исследования металлов и сплавов.

— Основы цифровой печати конспект лекций

Воронин, С.В. — Физические свойства металлов. Конспект лекций. Ч. 2

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

В.Д. Шашурин — Формирование гетероструктур наноприборов методом молекулярно-лучевой эпитаксии

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. — Электронная микроскопия в нанодиагностике

Арисова В.Н. — Методы исследования материалов и процессов. Часть 2. Световая и электронная микроскопия

Томина Елена Викторовна, Миттова Ирина Яковлевна, Сладкопевцев Борис Владимирович, Книрова Мария Викторовна — Практикум синтез и исследование нанодисперсных систем

Петропавловский В. М. — Учебно-методическое пособие по дисциплине Прикладная голография

Алтайская Асия Вакильевна — Оптика. Атомная физика

Сост. СП. Зимин — Методы контроля технологических процессов в электронике: Методические указания по выполнению лабораторных работ

Зимин С. П., Горлачев Е. С., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Материалы электронной техники (80,00 руб.)

Саенко А. Г., Алтайская А. В. — Физика. Ч. 3. Раздел «Оптика»

Лавлинский Александр Викторович, Мазурова Ирина Эдуардовна — Основы световой микроскопии и цифровой макро- и микрофотографии (90,00 руб.)

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Лантух Ю. Д. — Оптика (160,00 руб.)

Алтайская Асия Вакильевна — Оптика. Атомная физика (90,00 руб.)

Козик Е. С. — Устройство и работа электронного микроскопа JEOL JCM-6000 NEOSCOPE (90,00 руб.)

Андреев А. Н., Гаврилов Е. В., Ишанин Г. Г., И др. — Оптические измерения

Коллектив авторов — Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Дмитриев А. С. — Введение в нанотеплофизику

Лукичев Владимир Федорович — Труды Физико-технологического института Академии наук

Юшин — Методы контроля и анализа веществ

Вознесенский Э. Ф., Шарифуллин Ф. С., Абдуллин И. Ш. — Теоретические основы структурной модификации материалов кожевенно-меховой промышленности в плазме высокочастотного разряда пониженного давления

Казан. гос. технол. ун-т — Низкотемпературная плазма в процессах нанесения функциональных покрытий

Нугуманова Г. Н., Шкодич В. Ф., Наумов С. В., Казан. нац. исслед. технол. ун-т — Международная молодежная конференция «Нано- и супрамолекулярная химия в сорбционных и ионообменных процессах»

Салахов А. М. — Керамика: исследование сырья, структура, свойства

Am meisten angefragte Begriffe

aгентство

изображения

электронов

изображение

поверхности

нанопроволоки

нанопроволок

разрешения

получения

структуры

образцов

качестве

наноструктур

являются

показано

электронной

электронно

позволяет

кристаллов

нанотрубки

электронного

различных

микроскопа

результате

посредством

наночастицы

разрешение

использованием

дифракции

структур

электроны